Элювиально-иллювиальная дифференциация почвенного профиля происходит под воздействием просачивающейся атмосферной влаги. Происходит интенсивный вынос вещества (оксидов железа и алюминия и гуминовых веществ), что вызывает накопление SiO2 в верхнем элювиальном горизонте А и образование глинистого иллювиального горизонта, обогащенного полутора оксидами. Из-за слабой водопроницаемости горизонта BSN в нем возможны псевдоглеевые процессы разрушения минеральной части, что увеличивает элювиацию горизонта A.