Введение 4
Глава 1 6
Микросхемы статических ОЗУ и методы их тестирования 6
1.1 Структура и основные характеристики тестируемых микросхем 6
1.2 Параметрический контроль микросхем статических ОЗУ 10
1.3 Функциональный контроль микросхем статических ОЗУ 13
1.4 Выбор методов параметрического и функционального контроля микросхем ОЗУ при воздействии импульсного тормозного излучения 15
Глава 2 17
Измерительный комплекс для радиационных испытаний микросхем СОЗУ 17
2.1 Состав и функционирование измерительного комплекса 17
2.2 Контроллерный модуль 20
2.3 Измерительный модуль 29
Глава 3 36
Методика испытаний и программное обеспечение измерительного комплекса 36
3.1 Общая методика испытаний 36
3.2 Алгоритм и программа функционального тестирования 37
3.3 Алгоритм и программа управления измерительным комплексом в процессе испытаний (запуск, измерение, хранение и вывод результатов) 41
3.4 Руководство пользователя 45
Заключение 47
Список литературы 48