Капиллярный метод контроля (КМК) основан на капиллярном проникновении индикаторных жидкостей в полость несплошностей материала объекта контроля и регистрации образующихся индикаторных следов визуально или с помощью преобразователя. Метод позволяет обнаруживать поверхностные (т. е. выходящие на поверхность) и сквозные (т. е. соединяющие противоположные поверхности стенки объекта контроля) дефекты, которые могут быть обнаружены также при визуальном контроле. Такой контроль требует больших затрат времени, особенно при выявлении слабо раскрытых дефектов, когда выполняют тщательный осмотр поверхности с применением средств увеличения. Преимущество КМК – в многократном ускорении процесса контроля [1]. Актуальность данной темы в современной научной действительности обусловила выбор темы курсовой работы и ее основную цель: изучить теоретические основы методов капиллярного контроля.